サイト名称 日立ハイテク

高精度な表面計測を実現するナノ3D光干渉計測システム 最新機能とアプリケーション

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セミナー種別 AFMソリューションセミナー
講演タイトル 高精度な表面計測を実現するナノ3D光干渉計測システム 最新機能とアプリケーション
講演者 株式会社 日立ハイテク
概要 ナノ3D光干渉計測で新たに搭載された、「安定した測定精度を実現するレンズ自動校正機能」および「他の観察手法とのシームレスな解析を可能にするリンケージ機能」を活用した最新アプリケーションをご紹介します。
関連製品 ナノ3D光干渉計測システム（CSI）
セミナー開催日 2022/12/07(水)
公開日(yyyy/㎜/dd) 2023/01/26
講演時間 約23分
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