サイト名称 日立ハイテク

【試料の前処理2】イオンミリングを用いた断面試料作製法のご紹介

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セミナー種別 AFMソリューションセミナー
講演タイトル 【試料の前処理2】イオンミリングを用いた断面試料作製法のご紹介
講演者 株式会社 日立ハイテク
概要 イオンミリングは無応力での試料加工が大きな特徴で、電子部品や金属、セラミックスなどの材料評価、高分子材料や医薬品など微細化・複雑化が進む様々な試料の断面作製が可能です。本講演では一般的な試料前処理の基礎とイオンミリングによる優位点、最新アプリケーションについてご紹介いたします。
関連製品 TEM/SEM試料前処理装置
セミナー開催日 2022/12/07(水)
公開日(yyyy/㎜/dd) 2023/01/26
講演時間 約11分
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