サイト名称 日立ハイテク

【AFM基礎講座2】物性測定にチャレンジしてみよう！物性測定の基礎と測定ノウハウ

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セミナー種別 週刊ミニWebinar
講演タイトル 【AFM基礎講座2】物性測定にチャレンジしてみよう！物性測定の基礎と測定ノウハウ
講演者 株式会社日立ハイテク CTソリューション開発部　相蘇 亨
概要 AFMの物性測定は難しい？・・・これから物性測定を始める方や現在物性測定に困っている方向けのウェビナーです。
各物性モードの選び方、測定パラメータなど、物性測定でよくある疑問を解決しませんか？
また、従来に比べて感度や定量性に優れる最新の次世代AFM物性測定技術もご紹介いたします。

動画視聴ページに、よくある質問（FAQ）を掲載中です。
関連製品 走査型プローブ顕微鏡（AFM/SPM）
セミナー開催日 2022/06/30(木)
公開日(yyyy/㎜/dd) 2023/04/03
講演時間 約50分
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