サイト名称 日立ハイテク

透過電子顕微鏡の試料前処理の基礎

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セミナー種別 その他のセミナー
講演タイトル 透過電子顕微鏡の試料前処理の基礎
講演者 株式会社日立ハイテク
概要 TEM観察のための試料前処理手法は多種多様であり、試料の特性や目的により最適な手法を選択する必要があります。今回は、透過電子顕微鏡の様々な前処理手法についてその概要とアプリケーションをご紹介します。
関連製品 TEM/SEM試料前処理装置
セミナー開催日 2023/12/06(水)
公開日(yyyy/㎜/dd) 2024/01/22
講演時間 約37分
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