サイト名称 日立ハイテク

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セミナー種別 その他のセミナー
講演タイトル 【応用活用講座】AFMでこんなこともできる!表面性状計測から物性計測の活用事例をご紹介
講演者 株式会社日立ハイテク
概要 一般的に利用されている形状、粗さ測定だけでなく、電気・機械物性の計測とそこから派生する他の顕微鏡との相関解析まで、測定結果の解釈から課題解決までのアプローチをご紹介します。
関連製品 走査型プローブ顕微鏡(AFM/SPM)
セミナー開催日 2024/05/22(水)
公開日(yyyy/㎜/dd) 2024/09/03
講演時間 約42分
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