サイト名称 日立ハイテク

アプリケーション：RoHS対象元素の検出下限

タイトル RoHS対象元素の検出下限
詳細リンク XRF No.76
概要 蛍光X線分析における検出下限は、測定器・測定条件・マトリックス・干渉元素の有無などにより異なります。EA1000AⅢによる、ポリエチレン（PE）、ポリ塩化ビニル（PVC）、アルミニウム合金、真鍮、鉛フリーはんだマトリックス中のRoHS対象元素の検出下限を紹介します。
関連リンク（製品）
製品中分類 蛍光X線分析装置（XRF）
研究大分野 ・材料
・化学・化成品
研究中分野 ・ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶
・金属・磁性材料
・石油化学品
・高分子・タイヤ・ゴム
情報種別 テクニカルレポート
発行日 2014/07/01
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No. XRF No.76