サイト名称 日立ハイテク

タイトル EA1200VX(W管球)の検出下限
詳細リンク XRF No.42
概要 蛍光X線分析における検出下限は、測定器・測定条件・マトリックス・干渉元素の有無などによりそれぞれ異なります。本資料では、EA1200VX(W管球)のRoHS対象元素の検出下限を、いくつかの材料について調べた結果を紹介します。
製品中分類 蛍光X線分析装置(XRF)
研究大分野 ・材料
・エネルギー
研究中分野 ・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
・電気
・電池
情報種別 テクニカルレポート
発行日 2011/12/01
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No. XRF No.42