Language
サイトマップ
お問い合わせ
ゲスト様
ログイン
新規会員登録(無料)
ホーム
製品・サービス
アプリケーション
イベント
テクニカルサポート
トップ
アプリケーション一覧
各種材料におけるRoHS対象元素及びP・Cl・Sn・Sbの検出下限
アプリケーション:各種材料におけるRoHS対象元素及びP・Cl・Sn・Sbの検出下限
印刷
お問い合わせ
タイトル
各種材料におけるRoHS対象元素及びP・Cl・Sn・Sbの検出下限
詳細リンク
XRF No.111
概要
各種材料におけるRoHS対象元素(Cd・Pb・Hg・Br・Cr)に加えて、近年、REACH規則等で新たな規制物質として注目されているP・Cl・Sn・Sbについて、EA1400による検出下限値を示します。尚、測定時間やコリメータサイズ、マトリックスの違いや干渉する元素の有無などにより検出下限値は変わります。ここで示した検出下限値は一例であり保証値ではありません。
関連リンク(製品)
蛍光X線分析装置 EA1400
製品中分類
蛍光X線分析装置(XRF)
研究大分野
・材料
・化学・化成品
・エネルギー
研究中分野
・ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶
・石油化学品
・電気
情報種別
テクニカルレポート
発行日
2020/05/01
お問い合わせ先
お問い合わせはこちら
No.
XRF No.111
ページの先頭へ
日立ハイテクトップ
カテゴリテーマから選ぶ
製品・サービス
アプリケーション
イベント
医学・薬学
バイオ
食品
環境
材料
化学・化成品
エネルギー
臨床検査
分析装置
電子顕微鏡・プローブ顕微鏡
医用機器
ライフサイエンス製品
テクニカルサポート
拠点情報
展示会
セミナー
スクール
セミナー動画
日立トップ
日立の製品・サービス
日立の企業情報
Loading...
あなたは医療従事者ですか?
はい
いいえ
これより先のページは、日本国内の医療関係者の方を対象に日立ハイテク製品に関する情報を提供することを目的としています。
一般の方および日本国外の医療関係者への情報提供を目的としたものではありませんのでご了承ください。