サイト名称 日立ハイテク

アプリケーション：EA1400による無電解ニッケルめっき膜厚とリン濃度同時分析

タイトル EA1400による無電解ニッケルめっき膜厚とリン濃度同時分析
詳細リンク XRF No.129
概要 蛍光Ｘ線分析装置 EAシリーズはRoHS指令対応、成分分析、異物分析だけでなく、膜厚分析にも活用可能です。本稿では、自動車、精密機械、電気・電子、航空・宇宙、食品製造関連など、幅広い分野で用いられる無電解ニッケルめっき膜の膜厚とリン濃度の同時分析をEA1400で行った結果を紹介します。無電解ニッケルめっきはリン濃度によって特性が異なるため、リン濃度管理が重要となります。リン濃度の感度向上のため、大気雰囲気に加えて真空雰囲気での測定も行いました。
関連リンク（製品）
製品中分類 蛍光X線分析装置（XRF）
研究大分野 材料
研究中分野 ・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
情報種別 テクニカルレポート
発行日 2025/03/18
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No. XRF No.129