サイト名称 日立ハイテク

アプリケーション：FT150による無電解Ni/Auめっき（ENIG）の膜厚及びP濃度の同時定量

タイトル FT150による無電解Ni/Auめっき（ENIG）の膜厚及びP濃度の同時定量
詳細リンク XRF No.105
概要 ★第15回JPCA賞受賞★ プリント配線板のパッドの表面処理に用いられる無電解Ni/Auめっき（ENIG）や無電解Ni/Pd/Auめっき（ENEPIG）のはんだ接合の信頼性を確保するためには、各層の膜厚だけでなく無電解Ni（Ni-P）層のP濃度の管理が重要です。本報ではフレキシブルプリント配線板（FPC）上の無電解Ni/Auめっきの分析例をご紹介します。
製品中分類 膜厚測定装置
研究大分野 材料
研究中分野 半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
情報種別 テクニカルレポート
発行日 2019/02/01
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No. XRF No.105