サイト名称 日立ハイテク

タイトル FT150hによるSn-Agはんだの測定
詳細リンク XRF No.101
概要 Sn-Ag系はんだは、鉛フリーはんだの一つとしてとして広く使用されています。Ag濃度ははんだの融点に影響することから、その濃度管理が非常に重要です。近年の実装部品の小型化・微細化に伴い、微小領域に対するAg濃度測定が求められるようになってきています。本資料では、新しい集光型X線光学系と進化したVortex®検出器を搭載したFT150hを用いて、バルク状のSn-AgはんだのAg濃度測定を行い、微小領域におけるAg濃度の測定性能について評価を行った事例について紹介いたします。なお、これは測定例であり、装置の性能を保証するものではありません。
製品中分類 膜厚測定装置
研究大分野 ・材料
・エネルギー
研究中分野 ・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
・電気
・電池
情報種別 テクニカルレポート
発行日 2016/09/01
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No. XRF No.101