サイト名称 日立ハイテク

タイトル FT150による無電解ニッケルめっき膜厚とリン成分分析
詳細リンク XRF No.85
概要 無電解ニッケル(ニッケル-リン合金)めっきでは、リンの含有率によりめっきの特性が異なります。 そのため、めっき膜厚の分析だけでなく、リン含有量の分析も重要になります。大気雰囲気で微小量領域のリンの蛍光X線を高感度で検出するために、集光型光学系と半導体検出器の組み合わせが必要となります。当社ではこれまでFT9500/FT9500Xシリーズにより、このような測定ニーズに対応していました。この度、進化した集光型光学系とVortex®検出器を搭載したFT150シリーズをリリースし、さらに高精度な測定を実現しました。本資料では、FT150で鉄上の無電解ニッケルと銅上の無電解ニッケルの膜厚とリンの含有量を同時に分析した事例を紹介します。また、FT9500Xシリーズとの比較も合わせて紹介します。
製品中分類 膜厚測定装置
研究大分野 ・材料
・エネルギー
研究中分野 ・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
・電気
・電池
情報種別 テクニカルレポート
発行日 2015/02/01
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No. XRF No.85