サイト名称 日立ハイテク

アプリケーション：FT9500Xアプリケーションデータ④　吸収法によるAgとSnの測定例

タイトル FT9500Xアプリケーションデータ④　吸収法によるAgとSnの測定例
詳細リンク XRF No.59
概要 本資料は、素地の蛍光Ｘ線の減衰に着目する手法である吸収法を用いて、Cu素地上のAg及びSnの1 μm－20 μmの厚さの試料を測定した結果について紹介します。なお、これは測定事例であり、装置の性能を保証するものではありません。
製品中分類 膜厚測定装置
研究大分野 ・材料
・エネルギー
研究中分野 ・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
・電気
・電池
情報種別 テクニカルレポート
発行日 2013/03/01
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No. XRF No.59