サイト名称 日立ハイテク

タイトル Cr/Ni/Cu/Znの膜厚測定
詳細リンク XRF No.54
概要 亜鉛ダイカストは金属部品や代表的な生活雑貨など、様々な分野で使用されています。この亜鉛ダイカストになされるめっきの一つにCr/Ni/Cuの3層めっきがあります。比例計数管の装置でこの種の試料を測定する場合、Ni、Cu、Znがスペクトル上で一つのピークとして観測されることから、この3元素のピークをしっかりと分離することが測定上の大きなポイントとなります。本資料では、FT110でこの試料を測定するためのより有効な測定条件の設定について紹介します。特に、NiめっきやCuめっきの厚みが試料ごとに大きく異なる場合に効果的に働きます。
関連リンク(製品)
製品中分類 膜厚測定装置
研究大分野 ・材料
・エネルギー
研究中分野 ・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
・電気
・電池
情報種別 テクニカルレポート
発行日 2012/06/01
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No. XRF No.54