| 概要 |
Sn-Ag系はんだは、鉛フリーはんだの一つとして広く使用されています。Ag濃度は融点や濡れ性に影響し、はんだ接続の信頼性を左右するため、Ag濃度の高精度な管理が重要です。さらに、近年、実装部品の小型化・微細化に伴い、ますます微小領域でのAg濃度分析が求められています。 FT160シリーズは、約30 μmの微小領域に高輝度X線を照射でき、はんだバンプのような微小部のAg濃度管理に有効です。特に、Ag濃度を高精度に分析するには、W管球(FT160h)の使用が適しています。 本レポートでは、FT160hを用いたSn-Agはんだ試料中のAg濃度の繰返し精度を示します。 FT160のデータは、Technical Report XRF No.132をご参照ください。 |