Language
サイトマップ
お問い合わせ
ゲスト様
ログイン
新規会員登録(無料)
ホーム
製品・サービス
アプリケーション
イベント
テクニカルサポート
トップ
アプリケーション一覧
S-3400N走査電子顕微鏡…
アプリケーション:S-3400N走査電子顕微鏡による低真空観察の特長とその応用 (778KB)
印刷
お問い合わせ
タイトル
S-3400N走査電子顕微鏡による低真空観察の特長とその応用 (778KB)
詳細リンク
SEM130
概要
S-3400N走査電子顕微鏡(以下、S-3400N)の特長は、高輝度電子ビームの実現により低真空低加速電圧観察において高い分解能が得られること、新形反射電子検出器、低真空二次電子検出器および異種信号同時測定機能などの採用で操作性が大幅に向上したことなどです。ここでは、これらの特長を活かして、金属コーティングなしに非同電子試料の低真空観察を行いました。その結果、炭酸カルシウム粉末表面の微細形態や、セラミックス中の分散材の分布を明瞭なコントラストで確認できました。
キーワード:低…
製品中分類
走査電子顕微鏡(SEM)
研究大分野
・材料
・エネルギー
研究中分野
・セラミックス・ガラス・鉱物・バイオミネラル
・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
・ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶
・電気
・電池
情報種別
テクニカルデータ/データシート
発行日
2006/09/01
お問い合わせ先
お問い合わせはこちら
No.
SEM130
ページの先頭へ
日立ハイテクトップ
カテゴリテーマから選ぶ
製品・サービス
アプリケーション
イベント
医学・薬学
バイオ
食品
環境
材料
化学・化成品
エネルギー
臨床検査
分析装置
電子顕微鏡・プローブ顕微鏡
医用機器
ライフサイエンス製品
テクニカルサポート
拠点情報
展示会
セミナー
スクール
セミナー動画
日立トップ
日立の製品・サービス
日立の企業情報
Loading...
あなたは医療従事者ですか?
はい
いいえ
これより先のページは、日本国内の医療関係者の方を対象に日立ハイテク製品に関する情報を提供することを目的としています。
一般の方および日本国外の医療関係者への情報提供を目的としたものではありませんのでご了承ください。