サイト名称 日立ハイテク

タイトル H-9500透過電子顕微鏡の機能と高分解能観察例(992KB)
詳細リンク TEM117
概要 近年、透過電子顕微鏡(TEM)のニーズは多様になってきています。特に半導体やナノテク分野では界面における原子配列状態や超薄膜の膜厚評価など、材料を原子レベルで評価する高分解能TEM のニーズが高まっています。
加速電圧300 kVのH-9500 は、本体制御をPC化し、TEM 像撮影用高感度デジタルCCD カメラを本体PCにインテグレーションしており、操作や撮影データ管理の簡便化を図っています。
今回は、H-9500 の特長とその2,3の高分解能…
製品中分類 透過電子顕微鏡(TEM/STEM)
研究大分野 ・材料
・エネルギー
研究中分野 ・セラミックス・ガラス・鉱物・バイオミネラル
・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
・ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶
・電気
・電池
情報種別 テクニカルデータ/データシート
発行日 2004/10/01
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No. TEM117