サイト名称 日立ハイテク

タイトル SiO2上Sn酸化過程の高分解能観察およびEELS分析(899KB)
詳細リンク TEM132
概要 H-9500透過電子顕微鏡(TEM)は高分解能透過像観察機能、高感度分析機能、100-300kVの広範囲な加速電圧などの多機能を備えたTEMで、半導体デバイス、各種電子材料、触媒材料などの分野で広く利用されています。しかし、ナノ材料の分野では完成された材料の構造や組成の評価のみでなく、その材料の創製過程をその場観察したいという要望が急増しています。そのようなニーズへの対応を目的にいろいろな特殊機能を有した試料ホルダの開発と実材料への応用技術開発が急ピッチで行われています。そのひとつに直接加熱方式試料加熱ホ…
製品中分類 透過電子顕微鏡(TEM/STEM)
研究大分野 ・材料
・エネルギー
研究中分野 ・セラミックス・ガラス・鉱物・バイオミネラル
・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
・ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶
・電気
・電池
情報種別 テクニカルデータ/データシート
発行日 2008/09/01
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No. TEM132