サイト名称 日立ハイテク

タイトル HD-2700の新機能SD-STEMの特長とその応用(690KB)
詳細リンク STEM019
概要 走査透過電子顕微鏡(STEM:Scanning Transmission Electron Microscope)HD-2700は、SD(Selected diffraction)-STEM機能(オプション)を用いることで、暗視野(DF:Dark field)-TEM法と同様、特定の弾性散乱(回折)電子線を用いたDF-STEM像を取得することが可能です。本稿では、HD-2700のSD-STEM機能を用いた金属材料の観察例を紹介します。

キーワ…
製品中分類 透過電子顕微鏡(TEM/STEM)
研究大分野 ・材料
・エネルギー
研究中分野 ・セラミックス・ガラス・鉱物・バイオミネラル
・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
・ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶
・電気
・電池
情報種別 テクニカルデータ/データシート
発行日 2011/11/01
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No. STEM019