タイトル | HD-2700の新機能SD-STEMの特長とその応用(690KB) |
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詳細リンク | STEM019 |
概要 | 走査透過電子顕微鏡(STEM:Scanning Transmission Electron Microscope)HD-2700は、SD(Selected diffraction)-STEM機能(オプション)を用いることで、暗視野(DF:Dark field)-TEM法と同様、特定の弾性散乱(回折)電子線を用いたDF-STEM像を取得することが可能です。本稿では、HD-2700のSD-STEM機能を用いた金属材料の観察例を紹介します。 キーワ… |
製品中分類 | 透過電子顕微鏡(TEM/STEM) |
研究大分野 | |
研究中分野 | ・セラミックス・ガラス・鉱物・バイオミネラル ・金属・磁性材料 ・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明 ・ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶 ・電気 ・電池 |
情報種別 | テクニカルデータ/データシート |
発行日 | 2011/11/01 |
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No. | STEM019 |