サイト名称 日立ハイテク

アプリケーション：Cut&See Proの紹介

タイトル Cut&See Proの紹介
詳細リンク APPLICATION_SMI_002
概要 従来のCut＆See機能は、断面加工をした後、見たい断面SEM像の位置やフォーカスを手動で合わせてから再びFIB加工枠を設定してSEM像を取得するといった流れでした。この面倒な作業をついに自動化したのが自動断面加工観察機能Cut＆See Proです。
製品中分類 集束イオンビーム
研究大分野 ・材料
・エネルギー
研究中分野 ・セラミックス・ガラス・鉱物・バイオミネラル
・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
・ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶
・電気
・電池
情報種別 テクニカルデータ/データシート
発行日 2006/04/01
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