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厚み管理ソフトウェア
アプリケーション:厚み管理ソフトウェア
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タイトル
厚み管理ソフトウェア
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APPLICATION_SMI_008
概要
近年では、より膜厚の薄いダメージの少ないTEMサンプルを作製する要望が高まっており、その目標膜厚は、50nm以下に及んでいます。この要求に応じるためには、膜厚を管理する技術が必要となります。今回ご紹介する、膜厚管理ソフト(特許出願中)を用いることで、TEM試料の厚みのばらつきを少なくことができます。以下に、厚み管理ソフトの概要と加工例を示します。
製品中分類
集束イオンビーム
研究大分野
・材料
・エネルギー
研究中分野
・セラミックス・ガラス・鉱物・バイオミネラル
・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
・ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶
・電気
・電池
情報種別
テクニカルデータ/データシート
発行日
2007/09/01
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APPLICATION_SMI_008
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これより先のページは、日本国内の医療関係者の方を対象に日立ハイテク製品に関する情報を提供することを目的としています。
一般の方および日本国外の医療関係者への情報提供を目的としたものではありませんのでご了承ください。