Hitachi

サイト名称 日立ハイテク

アプリケーション：FIBによる断面加工・観察技術

タイトル FIBによる断面加工・観察技術
詳細リンク APPLICATION_SMI_011
概要 私ども株式会社日立ハイテクサイエンスは、1986年、世界で最初の量産型汎用FIB（集束イオンビーム）装置、SMIシリーズをリリースいたしました。以来、FIB技術を用いたアプリケーションの開発をお客様とともに進めてまいりました。ここに、いくつかのアプリケーションにおけるノウハウをご紹介申し上げます。
これらの技術は、お客様の現場で抱えておられる課題に対して、弊社技術者が解決策を提案させていただいたものです。
製品中分類 集束イオンビーム
研究大分野
研究中分野 ・セラミックス・ガラス・鉱物・バイオミネラル
・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
・ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶
・電気
・電池
情報種別 テクニカルデータ/データシート
発行日 2010/06/01
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No. APPLICATION_SMI_011