タイトル | FIBによる断面加工・観察技術 |
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詳細リンク | APPLICATION_SMI_011 |
概要 | 私ども株式会社日立ハイテクサイエンスは、1986年、世界で最初の量産型汎用FIB(集束イオンビーム)装置、SMIシリーズをリリースいたしました。以来、FIB技術を用いたアプリケーションの開発をお客様とともに進めてまいりました。ここに、いくつかのアプリケーションにおけるノウハウをご紹介申し上げます。 これらの技術は、お客様の現場で抱えておられる課題に対して、弊社技術者が解決策を提案させていただいたものです。 |
製品中分類 | 集束イオンビーム |
研究大分野 | |
研究中分野 | ・セラミックス・ガラス・鉱物・バイオミネラル ・金属・磁性材料 ・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明 ・ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶 ・電気 ・電池 |
情報種別 | テクニカルデータ/データシート |
発行日 | 2010/06/01 |
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No. | APPLICATION_SMI_011 |