サイト名称 日立ハイテク

タイトル 低真空SEMによる電子材料/デバイスの観察例 (769KB)
詳細リンク sem105
概要 Natural SEM(低真空SEM)は、試料室圧力を観察目的に応じて低真空(1~270Pa)および高真空(約10-4Pa)に設定でき、絶縁物試料や含水/含油試料をそのまま観察可能なことから様々な分野でその活用が期待されています。最近では、反射電子検出器の性能向上により、低加速電圧においても高い分解能の反射電子像が得られるようになり、また二次電子を加速して残留ガス分子と衝突させ、その電離作用を応用したガス増幅型二次電子検出器が実用化され、低真空SEMの応用範囲が大きく拡大されました。ここでは、図1に示す吸収電流検出方式のガス増幅型二次電子検出器(以下ESED: Environmental Secondary Electron Detector)を備えたNatural SEMによる電子材料/デバイスの観察例を紹介します。

キーワード:低真空SEM,ESED,二次電子,反射電子,吸収電流,CSP,BGA,フラットミリング,HSG構造
製品中分類 走査電子顕微鏡(SEM)
研究大分野 ・材料
・エネルギー
研究中分野 ・セラミックス・ガラス・鉱物・バイオミネラル
・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
・ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶
・電気
・電池
情報種別 テクニカルデータ/データシート
発行日 2010/06/15
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No. sem105