| 概要 |
先端材料をはじめ、新しい機能を持った材料の開発が進むにつれ、透過形電子顕微鏡で観察する材料の種々はますます多様化しています。その中には、電子線に照射されるようことにより、変質し易い材料も少なくありません。そのような材料の観察における電子線損傷を軽減する方法の一つに試料冷却ホールダを用いた低温観察法があります。
今回は、H-8100形TEMと、試料冷却ホールダとして日立TEM用に米国Gatan社が開発した626形クライオトランスファホールダを用いて、パラフィン結晶の観察を行ったので、以下に紹介します。 |
