サイト名称 日立ハイテク

タイトル 高分子材料の引っ張りその場観察(4,062KB)
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概要 高分子材料の機能を高めるために、材料の複合化が進んでいます。
耐衝撃性ポリスチレン(HIPS)やアクリルニトリルブタジエンスチレン(ABS)樹脂などが、その代表例として知られています。
これらの材料評価をする上で、外部応力が加わったときの構造変化を観察することが非常に重要です。透過電子顕微鏡は、この微細構造変化を直接観察できる装置のひとつです。
今回、試料としてHIPSの超薄切片を用い、電顕微鏡内で引っ張り応力を加え、その構造変化の「その場観察」を試みました。その観察例をご紹介します。
試料薄片化にはReichert社製のULTRACUT N超ミクロトームにFC4Eクライオキットを装着したものを、観察にはH-8100 200kV分析電子顕微鏡を用いました。

キーワード:高分子材料,引っ張り,Alメッシュ,クレーズ,無染色・凍結
製品中分類 透過電子顕微鏡(TEM/STEM)
研究大分野 ・材料
・エネルギー
研究中分野 ・セラミックス・ガラス・鉱物・バイオミネラル
・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
・ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶
・電気
・電池
情報種別 テクニカルデータ/データシート
発行日 2011/12/02
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No. tem064