サイト名称 日立ハイテク

タイトル EELSによる試料の厚さ測定(2,198KB)
詳細リンク tem066
概要 冷陰極電界放出電子銃(ColdーFE)を搭載したHF-2000 200kV FE-TEMは、極微小部の分析を主目的として開発されました。
Cold-FEは通常の熱電子銃に比べ、電子線源が非常に小さく(5~10nm)高輝度(~10(9)A/cm2・sr)で、電子線のエネルギー幅が小さい(~0.3eV)ことがその特徴としてあげられます。これらの特徴は、EELSによる極微小部の状態分析に威力を発揮します。EELSはまた、試料の厚さ測定にも用いられます。
今回は、HF-2000 200kV FE-TEMとGatan社のParallel EELSを用い、試料の厚さ測定法について紹介します。

キーワード:冷陰極電界放出電子銃,EELS,試料厚さ測定
製品中分類 透過電子顕微鏡(TEM/STEM)
研究大分野 ・材料
・エネルギー
研究中分野 ・セラミックス・ガラス・鉱物・バイオミネラル
・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
・ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶
・電気
・電池
情報種別 テクニカルデータ/データシート
発行日 2011/12/02
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No. tem066