| 概要 |
透過電子顕微鏡に走査像検出器を装備して、走査透過電子像（STEM：Scanning Transmission Electron Microscopic image）を観察する手段は、画像信号を電気的に処理するため、コントラストの少ない材料の観察に効果があるとされています。
今回は、H-71010走査像観察装置を取り付けたH-7100透過電子顕微鏡を用いて、高分子材料のSTEM観察を試みましたので、以下に紹介します。
キーワード：透過電子顕微鏡,走査透過像観察装置,高分子材料,無染色凍結切片,走査透過像（STEM像） |
