サイト名称 日立ハイテク

タイトル 厚い半導体試料のエネルギーフィルター像観察(2,955KB)
詳細リンク tem091
概要 試料を透過した電子線をエネルギー分光し、特定のエネルギーの電子線で結像する方法を電子分光結像法(ESI法:Electron Spectroscopic Imaging)といいます。この手法によるエネルギーフィルター像は、厚い試料や生物組織の無染色試料などの観察に有効であり、さらに特定元素のマッピングが行えることが特長です。今回は、EF-1000形エネルギーフィルター像観察システムを用いて、集束イオンビーム加工観察技術により作製した厚い半導体試料のエネルギーフィルター像観察を行いましたので、以下に紹介します。

キーワード:エネルギーフィルタ像,16M-DRAM,集束イオンビーム加工,プラズモンロス電子
製品中分類 透過電子顕微鏡(TEM/STEM)
研究大分野 ・材料
・エネルギー
研究中分野 ・セラミックス・ガラス・鉱物・バイオミネラル
・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
・ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶
・電気
・電池
情報種別 テクニカルデータ/データシート
発行日 2011/12/02
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No. tem091