サイト名称 日立ハイテク

アプリケーション：ヒト歯牙エナメル質のFIBによる薄膜化とその断面TEM観察（5,050KB）

タイトル ヒト歯牙エナメル質のFIBによる薄膜化とその断面TEM観察（5,050KB）
詳細リンク tem095
概要 集束イオンビーム（以下、FIB）加工技術は、半導体、金属などの無機材料や高分子などの有機材料あるいは、それらの複合材料など様々な材料の透過電子顕微鏡（以下、TEM）の試料作製に応用されるようになりました。
今回は、生体試料への応用の一例として、ヒトの歯の断面TEM試料をFIB加工により作製し、観察した例を紹介します。

キーワード：集束イオンビーム,断面TEM試料作製,エナメル質ハイドロキシアパタイト
製品中分類 透過電子顕微鏡（TEM/STEM）
研究大分野 ・材料
・エネルギー
研究中分野 ・セラミックス・ガラス・鉱物・バイオミネラル
・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
・ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶
・電気
・電池
情報種別 テクニカルデータ/データシート
発行日 2011/12/02
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No. tem095