| 概要 |
透過電子顕微鏡では試料の高角度連続傾斜像をコンピュータ上で再構成する電子線トモグラフィーを利用して、試料の三次元構造解析が行われています。H-7650透過電子顕微鏡の3D再構成システムは、試料傾斜角度制限によるミッシングゾーンの影響を軽減するため、ステレオ計測によるトポグラフィーの手法を取り入れたアルゴリズムを導入しています。今回は、この手法をフリーズエッチングレプリカ膜に応用し、ミッシングゾーンの影響を抑えたアーティファクトの少ない再構成を行うことができました。
キーワード：透過電子顕微鏡,トモグラフィー,三次元構造解析,フリーズエッチングレプリカ,NRK細胞,トポグラフィーに基づく再構成法（Topography Based Reconstruction : TBR）,セグメンテーション |
