Hitachi

サイト名称 日立ハイテクノロジーズ

タイトル HD-2000によるニューマテリアルキャラクタリゼーション(その1)-触媒への応用-(783KB)
詳細リンク stem001
概要 HD-2000は、SEM並みの操作性でTEM並みの高分解能像を観察できると同時に、高い感度で元素分析が行える装置です。また、二次電子、透過電子、散乱電子などを別々に検出できるので材料の構造や組成に関する情報を的確に捉えることも可能です。
今回は、新素材キャラクタリゼーションの一例として、HD-2000の貴金属(Pt)触媒への応用について紹介します。
SEM : Scanning Electron Microscope, 走査電子顕微鏡
TEM : Transmission Electron Microscope, 透過電子顕微鏡

キーワード:触媒,二次電子,BF検出器,HAADF検出器,EDX検出器,明視野走査透過像,暗視野走査透過像,担体,格子像
製品中分類 透過電子顕微鏡(TEM/STEM)
研究大分野
研究中分野 ・セラミックス・ガラス・鉱物・バイオミネラル
・金属・磁性材料
・半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
・ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶
・電気
・電池
情報種別 テクニカルデータ/データシート
発行日 2011/12/02
No. stem001