| 概要 |
HD-2000は、SEM並みの操作性でTEM並みの高分解能像を観察できると同時に、高い感度で元素分析が行える装置です。また、二次電子、透過電子、散乱電子などを別々に検出できるので材料の構造や組成に関する情報を的確に捉えることも可能です。
今回は、新素材キャラクタリゼーションの一例として、HD-2000の貴金属（Pt）触媒への応用について紹介します。
SEM : Scanning Electron Microscope, 走査電子顕微鏡
TEM : Transmission Electron Microscope, 透過電子顕微鏡
キーワード：触媒,二次電子,BF検出器,HAADF検出器,EDX検出器,明視野走査透過像,暗視野走査透過像,担体,格子像 |
