Title	Robustness of the Auto Microsampling system
Details	HTD-FIB-E048
Overview	Robustness of the Auto Microsampling system
Related links (products)	Focused Ion and Electron Beam System & Triple Beam System NX2000
Product type	Focused Ion Beam Systems (FIB)
Field 1	Materials science
Field 2	Semiconductors (incl. materials) / Devices / Components / Displays & Lighting
Information type	Technical Data / Data Sheet
Issue date	2018/11/12
Inquiry	Inquiry
No.	HTD-FIB-E048

Title

Robustness of the Auto Microsampling system

Details

HTD-FIB-E048

Overview

Robustness of the Auto Microsampling system

Related links (products)

Product type

Focused Ion Beam Systems (FIB)

Field 1

Materials science

Field 2

Semiconductors (incl. materials) / Devices / Components / Displays & Lighting

Information type

Technical Data / Data Sheet

Issue date

2018/11/12

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HTD-FIB-E048

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