Title	Robustness of the Auto Microsampling system
Details	HTD-FIB-E048
Overview	Robustness of the Auto Microsampling system
Related links (products)	Focused Ion and Electron Beam System & Triple Beam System NX2000
Product type	Focused Ion Beam Systems (FIB)
Field 1	Materials science
Field 2	Semiconductors (incl. materials) / Devices / Components / Displays & Lighting
Information type	Technical Data / Data Sheet
Issue date	2018/11/12
Inquiry	Inquiry
No.	HTD-FIB-E048

Title

Robustness of the Auto Microsampling system

Details

HTD-FIB-E048

Overview

Robustness of the Auto Microsampling system

Related links (products)

Product type

Focused Ion Beam Systems (FIB)

Field 1

Materials science

Field 2

Semiconductors (incl. materials) / Devices / Components / Displays & Lighting

Information type

Technical Data / Data Sheet

Issue date

2018/11/12

Inquiry

No.

HTD-FIB-E048

Fields

あなたは医療従事者ですか？
はい	いいえ
これより先のページは、日本国内の医療関係者の方を対象に日立ハイテク製品に関する情報を提供することを目的としています。一般の方および日本国外の医療関係者への情報提供を目的としたものではありませんのでご了承ください。

Applications：Robustness of the Auto Microsampling system