サイト名称 日立ハイテク

タイトル InPのクライオFIB加工と断面SEM観察
詳細リンク HTD-FIB-067
概要 ETHOS NX5000にサイドエントリーステージを搭載することで、日立ハイテク社製共用リボルバーメッシュホルダBCXが使用可能となります。今回、雰囲気遮断冷却メッシュホルダーBCNを用いたクライオFIB加工と断面SEM観察例を紹介します。図1は化合物半導体の一つであるInPを室温(a)および-120℃(b)で加工したSEM像です。試料をマイクロサンプリング®法で摘出し、最終仕上げ加工を加速電圧5 kVで行いました。室温加工では断面に多くの析出物が観察されていますが、クライオ加工では析出物が低減されています。InPは、イオン照射による表面あれが知られていますが1)、クライオ加工によって表面あれを抑制することができました。サイドエントリーホルダは、InPの断面加工に有効であることが確認できました。
関連リンク(製品)
製品中分類 集束イオンビーム
研究大分野 材料
研究中分野 半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
情報種別 テクニカルデータ/データシート
発行日 2019/11/11
お問い合わせ先 お問い合わせはこちら
No. HTD-FIB-067