Applications：Observation of interface structure of SiC- diamond composites

Title	Observation of interface structure of SiC- diamond composites
Details	HTD-FIB-E082
Overview	Observation of interface structure of SiC- diamond composites
Related links (products)	Focused Ion and Electron Beam System Ethos NX5000 Series Field Emission Transmission Electron Microscope HF5000 Ion Milling System ArBlade 5000
Product type	・Focused Ion Beam Systems (FIB) ・Transmission Electron Microscopes (TEM) ・Sample Preparation Devices for TEM/SEM
Field 1	Materials science
Field 2	Nanomaterials / Catalysts / Battery materials / Composite materials / Crystals
Information type	Technical Data / Data Sheet
Issue date	2020/05/20
Inquiry	Inquiry
No.	HTD-FIB-E082

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