サイト名称 日立ハイテク

アプリケーション：電子回折パターンの自動解析

タイトル 電子回折パターンの自動解析
詳細リンク HTD-TEM-059
概要 Diffraction analysis機能は、電子回折パターンの複数点のスポット距離や面間隔（D値）の自動計測を行う機能です。120 kV TEM HT7830を用いて撮影したTiO2ナノ粒子のTEM像（黄色丸印は制限視野絞りの径を表示）、制限視野電子回折パターン、および面間隔の自動計測結果を示します。
関連リンク（製品）
製品中分類 透過電子顕微鏡（TEM/STEM）
研究大分野 材料
研究中分野 ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶
情報種別 テクニカルデータ/データシート
発行日 2022/04/04
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No. HTD-TEM-059