サイト名称 日立ハイテク

アプリケーション：セパレータの自動連続撮像と自動孔径計測

タイトル セパレータの自動連続撮像と自動孔径計測
詳細リンク HTD-SEM-182
概要 構造の微細化が進む新材料に対してSEMを用いた評、解析においては、高分解能で複数領域を自動計測するニーズが高まっています。リチウムイオン電池の製造過程における品質管理では、セパレータの厚さや細孔構造、表面微細構造の評価が求められています。
関連リンク（製品）
製品中分類 電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）
研究大分野 材料
研究中分野 ナノ材料・触媒・電池材料・複合材料・膜結晶
情報種別 テクニカルデータ/データシート
発行日 2022/05/17
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No. HTD-SEM-182