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シングルチルトホルダーを用いたSTEM像情報の活用によるFIB薄膜試料作製
アプリケーション:シングルチルトホルダーを用いたSTEM像情報の活用によるFIB薄膜試料作製
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シングルチルトホルダーを用いたSTEM像情報の活用によるFIB薄膜試料作製
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HTD-FIB-129
概要
シングルチルトホルダーを用いると、FIB加工しながらリアルタイムでSTEMを同時観察することができます。本シートでは、3D NANDの配線部をターゲットとして薄膜作製に応用した例を紹介します。
関連リンク(製品)
高性能FIB-SEM複合装置 Ethos NX5000 シリーズ
製品中分類
集束イオンビーム
研究大分野
材料
研究中分野
半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
情報種別
テクニカルデータ/データシート
発行日
2023/04/21
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No.
HTD-FIB-129
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