サイト名称 日立ハイテク

タイトル FT160によるSn-AgはんだのAg濃度分析
詳細リンク XRF No.132
概要 Sn-Ag系はんだは、鉛フリーはんだの一つとして広く使用されています。Ag濃度は融点や濡れ性に影響し、はんだ接続の信頼性を左右するため、Ag濃度の高精度な管理が重要です。さらに、近年、実装部品の小型化・微細化に伴い、ますます微小領域でのAg濃度分析が求められています。
FT160シリーズは、約30 μmの微小領域に高輝度X線を照射でき、はんだバンプのような微小部のAg濃度管理に有効です。
本レポートでは、FT160を用いたSn-Agはんだ試料中のAg濃度の繰返し精度を示します。
FT160hのデータは、Technical Report XRF No.133をご参照ください。
関連リンク(製品)
製品中分類 膜厚測定装置
研究大分野 材料
研究中分野 半導体材料・デバイス・電子部品・ディスプレイ・照明
情報種別 テクニカルレポート
発行日 2025/12/19
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No. XRF No.132