• 特長

• 仕様

特長

X線光学系にポリキャピラリを採用

約30 μmφに高輝度な１次X線を照射し高精度測定を実現しました。

検出器系に高性能半導体検出器（SDD）を採用

高計数率半導体検出器（SDD）で高精度測定を実現しています。

画像処理ソフトによる自動測定アシスト機能

正確な多点自動測定による高効率化を実現しています。

シンプルなソフトデザインとヘルプ機能で簡便操作

日々のルーチン測定は、登録したアプリを用いて簡単に行うことができます。

作業者の安全・安心に配慮した装置デザイン

X線漏洩のリスクが非常に少ない密閉型筐体を採用しています。また、扉開口部を大きくし、試料の視認性や操作性を追求しました。

仕様

型式	FT160S	FT160Sh	FT160	FT160h	FT160L	FT160Lh
X線発生源	標準	高エネルギー	標準	高エネルギー	標準	高エネルギー
	Mo	W	Mo	W	Mo	W
測定対象元素	13Al から92U
試料台(mm)	300(W) × 245(D)		420(W) × 320(D)		620(W) × 620(D)
測定可能試料サイズ(mm)	300(X) × 245(Y) × 80(Z)		400(X) × 300(Y) × 100(Z)		600(X) × 600(Y) × 20(Z)