特長
画像観察まで3分。目的のデータを素早く取得し、レポート作成が可能。
観察・分析のフレキシビリティ
多彩なデータをオートで取得。切替も迅速！
迅速な元素マップ*2の取得が可能
- *1
- TM4000PlusⅡの機能です
- *2
- オプション
Camera Navi*を使えば、こんなに簡単
カメラナビ画像で迷わず視野探し、MAP機能で観察をサポート
- *
- オプション：カメラナビゲーションシステム
基本操作はこんなに簡単・スピーディ
画像観察までわずか3分。
目的のデータを素早く取得し、レポート作成が可能。
Report Creatorで手軽にレポート作成
画像とテンプレートを選択するだけでMicrosoft Word、Excel、PowerPoint 形式のレポートが完成
絶縁物試料でも前処理なしでそのまま観察可能です。
帯電現象を抑える「帯電軽減モード」
帯電しやすい試料は「帯電軽減モード」を用いることで、帯電を抑えて観察できます。
「帯電軽減モード」への切り替えは、ソフトウエア上からマウスクリックで行えます。
低真空で多彩な観察が可能
帯電しやすい粉末や含水試料などの試料も目的にあわせて観察できます。
低真空下での二次電子像（表面形状）観察を実現します。
前処理不要で絶縁物や水分・油分を含む試料の表面観察を実現
これまでの導電性試料の観察だけでなく、絶縁物や含水・含油試料まで前処理なしでそのまま観察できます。二次電子像⇔反射電子像の切替も素早く行えます。
高感度低真空二次電子検出器
高感度低真空二次電子検出器（UVD）を採用。電子線と残留ガス分子との衝突によって発生した光を検出することにより、二次電子情報を持った画像を観察することができます。また、本検出器をコントロールすることにより、電子線照射により発生した光を検出することでCL情報（UVD-CL：CL情報を含んだ画像）を取得することが可能です。
高感度低真空二次電子検出器の検出原理
加速電圧20 kV対応
TM4000Ⅱ/ TM4000Plus IIは加速電圧20 kV対応になりました。
EDS分析（オプション）において、より高計数の分析が可能となりました。
加速電圧20 kVによるEDSマッピングの高S/N化
Multi Zigzag（オプション）
SEM観察を広い領域で行いたいという要望にお応えしました。
モータードライブステージとの併用で、SEMで撮影が困難な低倍高精細広領域観察が行えます。
STEMホルダー（オプション）
簡易的な透過電子像が観察可能です。
新開発のSTEMホルダーと高感度低真空二次電子検出器（UVD）を組み合わせて使用することで、簡便に透過電子像の取得が可能です。
薄膜試料や、生体サンプルの観察に有効です。
* UVDはTM4000Plus IIの機能です。
試料 : 研磨剤
加速電圧 : 20 kV
観察信号 : (a) STEM像, (b) 反射電子像
倍率 : 10,000倍
試料: ラットの腎臓
加速電圧 : 15 kV
観察信号 : STEM像
倍率 : 1,000倍
試料: ラットの肝臓
加速電圧 : 15 kV
観察信号 : STEM像
倍率 : 5,000倍
製品紹介プレゼンテーション
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コンパクトで高品質なイメージングを提供する、卓上顕微鏡を紹介いたします。
アプリケーションギャラリー
分野別の観察事例をご覧いただけます。
