サイト名称 日立ハイテク

ユーザが追加した画像

RoHS対応をはじめ、スラグ、セメントなどの工程管理や品質管理、また、混入異物や異常部などの故障解析や調査分析など、多岐にわたるアプリケーションで高スループット分析を提供します。

  • *モニター画面ははめ込みです。

価格 ¥9,500,000~

取扱会社:株式会社 日立ハイテクサイエンス

特長

新型シリコンドリフト検出器(SDD)を採用

・高感度高スループット測定

 高エネルギー側の量子効率を向上させた、新しいシリコンドリフト検出器(SDD)を搭載。Cd Kα, Pd Kα, Ba Kαなどのエネルギー体に対し、高感度で高スループットな測定を実現します。

・高分解能・高計数率を実現

 高分解能・高計数率を実現したSDDにより、EA1400は従来機よりも主成分に近接する微量元素の検出性能に優れ、金属種の品質管理などに威力を発揮します。

・真空システム+新開発SDD

 真空システムと新たなSDDの組み合わせにより軽元素の感 度が大幅に向上したため、軽元素を含むスラグやセメントな どの工程管理や品質管理の強化に貢献します。

RoHS対応をはじめ幅広い領域で活躍

・RoHS対応:黄銅中のCdスクリーニング分析をさらに高スループット化

黄銅など金属に含まれる微量のCdの測定時間において、当社従来機(EA1000VX)に比べ2倍以上のスループットを実現します。

30秒測定時の黄銅中の各元素検出下限値(mg/kg)
元素CdPbCr
黄銅41311
  • *各検出下限は一例であり、保証値ではありません。

・製錬炉の工程管理:高感度によりスラグの成分測定で迅速・高精度を実現

スラグの主要成分Si, Ca, Al, Mgの組成情報から製錬炉(工程)の状態管理を行います。特に、新型SDDによりMg等の軽元素の定量精度が向上しました。

・品質管理:製品に付着・埋没した異物を検出

X線斜方照射方式では測定が難しい凹凸のある母材に付着した異物に対して、EA1400の試料同軸観察・X線垂直照射方式では異物を取り出すことなく、異物由来の元素を検出し物質同定することができます。

    

仕様

型式EA1400
測定元素Na(11)~U(92)
雰囲気大気仕様(Al~U)
真空仕様(Na~U)※オプション
X線照射方式下面垂直照射型
X線源小型空冷式X線管球(Rhターゲット)
検出器新型SDD
分析領域1、3、5 mmφ
一次X線フィルタ5モード自動切換
試料室寸法304(W)×304(D)×110(H)mm
装置寸法520(W)×600(D)×445(H)mm
重量69 kg
電源AC100~240V(50/60Hz)/190VA
サンプルチェンジャ可能(12検体)※オプション