| 時刻（時間） | 講演内容 |
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| 13:00～13:05（5分） | 開会のご挨拶・操作説明 |
| 13:05～13:55（50分） | 【基調講演】エネルギー変換型微粒子光触媒開発における電子顕微鏡の役割
東京大学 堂免 一成 先生
水から水素を生成する微粒子光触媒は、大規模で安価な水素製造を期待されているが、高効率化が最大の課題である。そのためにはサブミクロンオーダーの光触媒粒子上にナノメートルスケールの助触媒を適切に配置することが重要である。光触媒開発における電子顕微鏡の果たす重要性についていくつかの例を用いて紹介する。 |
| 13:55～14:15（20分） | FE-SEMによる電池材料の最新観察事例とSEM観察ワークフローの自動化事例のご紹介
株式会社日立ハイテク
カーボンニュートラル社会の実現に向け、FE-SEMによる電池材料の表面形態観察や粒径計測が重要視されつつある。本講演では、これまで観察が難しかった電池材料中に含まれる軽元素材料を極低加速電圧条件（～10 V）で観察した結果や、SU9000Ⅱにも新たに搭載した「EM Flow Creator」を用いたSEM観察自動化ワークフローの具体例について紹介する。 |
| 14:15～14:25（10分） | 休憩 |
| 14:25～14:45（20分） | 業務効率化に貢献するイオンミリング装置の各種アプリケーションのご紹介
株式会社日立ハイテク
多様化する断面観察のニーズに対し、観察品質の向上と観察目的に適した加工を実施できる手法をご説明します。また、より効率的な業務運用に応えるイオンミリング装置の特長的な機能について紹介します。 |
| 14:45～15:05（20分） | SEM、AFM、CSI、イオンミリングを組み合わせた解析ソリューション
株式会社日立ハイテク
SEM、AFM、白色干渉顕微鏡（CSI）の同一箇所観察により、電子部品や先端材料の研究開発や品質管理の現場で課題解決した事例や、イオンミリングによる断面加工などの前処理含めたAFM物性測定例など、複数装置間にわたる日立ハイテク連携ソリューションをご紹介します。 |
| 15:05～15:30（25分） | 雰囲気遮断システムを用いた全固体Liイオン電池の解析ソリューション
株式会社日立ハイテク
電子顕微鏡を用いた全固体Liイオン電池の解析では、水分による材料の変質を防ぐために、大気非暴露下での評価が必要です。本講演では、硫化物系の全固体Liイオン電池を解析ターゲットとして、弊社の雰囲気遮断システムを活用した「装置横断型の一気通貫ソリューション」による、マイクロからナノメートル領域の解析事例についてご紹介します。 |
| 15:30～15:55（25分） | 環境課題に対する分析事例 ～プラスチック資源環境への取り組み～
株式会社日立ハイテクサイエンス
持続可能な社会の構築に向けて、モノづくりの最前線では、環境へ配慮した材料開発や製品製造プロセスの改善が急務で取り組まれています。ここではリサイクルプラスチックに焦点を当て、その物性や含有成分を、熱分析や分光光度計、高速液体クロマトグラフなどの各種分析機器を用いて評価した事例を紹介します。 |
| 15:55～16:00（5分） | 閉会のご挨拶・ご案内 |
