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公開日(yyyy/㎜/dd) [ 2026/11/08 ]～ [ 2026/11/08 ]

[ 2026/11/08 ]
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    その他のセミナー
微結晶、電子線敏感試料へのEBSD測定を可能とする電子直接検出型eWARP 2026/10/14
概要
独自設計の電子直接検出型EBSD検出器は、圧倒的な14,400fpsという超高速測定の特長だけでなく、超高感度での測定が可能です。超高速、超高感度という特長を掛け合わせることにより、高精細で微結晶を捉えることができ、電子線敏感試料においても低加速電圧、低照射電流という測定アプローチが可能となります。

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ショットキーFE-SEM SU8700の装置特長と金属組織観察能力の紹介 電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM） 2026/10/14
概要
ショットキーFE電子銃と磁界静電界複合レンズを備えたSU8700は、極低加速電圧領域での観察や大照射電流を要する高速分析まで幅広い解析手法に対応可能です。今回は金属材料の観察能力について、精細画像取得の活用事例などをご紹介します。

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超高速×高感度×低ダメージこれまでのEDSの常識を変えるFlatQUAD検出器 2026/10/14
概要
試料直上型のEDS FlatQUADは、B～の測定が可能で、超高速、高感度、低ダメージの分析を実現します。4つのEDS検出器を試料直上に配置することにより、高い立体角でX線を検出します。このジオメトリーと検出器設計により、従来のEDSでは難しい試料やアプリケーションが可能となります。

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コールドFE-SEM SU8600の装置特長とFlatQUAD分析の利点の紹介 電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM） 2026/10/14
概要
SU8600はCFE電子銃とセミインレンズを有し、高分解能観察と多様な検出信号を用いた観察が可能です。今回は、SU8600の装置特長を概説するとともに、Bruker FlatQUADとの組み合わせによる高効率EDS分析について、その有効性と適用範囲について詳しく実例を交えて紹介します。

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    材料解析テクノフォーラム
生成AIとデータ収集自動化による実験・製造プロセス効率化 2026/10/14
概要
本講演では、生成AIとインフォマティクスを活用したプロセス改善支援AI「Process Improvement Support AI（PISAI）」と、データの収集・管理・分析を自動化する「Lab Automation Platform」によるDX推進ソリューションをご紹介します。

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    材料解析テクノフォーラム
In-situ SEM観察技法による材料挙動の可視化 電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM） 2026/10/14
概要
材料の変形、劣化などの過程を直接観察することは、材料特性の理解を深めるうえで有益であり、とりわけ材料開発においては重要な役割を果たします。
本講演では、材料の動的挙動をその場で観察するための各種ツールとFE-SEMを組み合わせた解析システムの概要に加え、その活用事例を紹介いたします。

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    材料解析テクノフォーラム
超高分解能FE-SEM SU9600による低加速STEMを活用した複合的解析 電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM） 2026/10/14
概要
超高分解能FE-SEM SU9600は、従来から定評のあった超高分解能観察に加え、低加速STEM、EDS、EELS、4D-STEMの組み合わせで先端材料研究における複合的な評価を実現します。本講演では、SU9600の新機能を用い、先端・ナノ材料の表面および内部構造を解析した事例を紹介します。

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    材料解析テクノフォーラム
半開放型セルを用いた5kPa環境下におけるその場STEM/SEM観察 集束イオンビーム（FIB/FIB-SEM）; 電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM） 2026/10/14
概要
その場観察は実動作環境に近い環境下で微細構造変化をリアルタイムに捉えられる手法です。差動排気型ガス導入その場観察技術を基盤に、隔膜セル型による高圧環境下観察を検討しました。半開放型セルその場観察技術を開発し、5 kPaの高圧下においてSE検出とSTEM観察を両立した事例を紹介します。

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    材料解析テクノフォーラム
【基調講演】現代の錬金術：多元素ナノ物質の開発と社会実装に向けて 電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM） 2026/10/14
概要
元素の潜在能力を最大限に引き出すために、元素の組み合わせがもたらす膨大な物質探索空間を開拓することにより、複数元素のシナジー効果による革新的な機能・物性を有する新材料を創出することを目的としています。本講演では、元素の高度利用を基軸に新材料を効率的に探索するため、計算科学/データ科学/高スループット評価/非平衡プロセス/インフォマティクスに直結させたその場計測などを含む材料創製インフォマティクスについて紹介します。

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    活用事例（アプリ）セミナー
【Web開催】SEM観察の自動化最前線：SU3900/SU3800SE SeriesとEM Flow Creatorの活用事例 電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM） 2025/11/19
概要
自動化機能を強化し、操作性に優れた「SU3900/SU3800SE Series」の特長とアプリケーション事例をご紹介します。
加えて、日立SEMで使用可能な自動化支援ソフトウェア「EM Flow Creator」の新機能と、それを活用した柔軟かつ高精度な材料向け自動観察事例についてもご紹介いたします。

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    その他のセミナー
日立新型FE-SEM＆イオンミリングを用いた最新アプリケーション事例のご紹介 電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM） 2024/09/03
概要
この度、お客様の幅広い分野のSEMへの要求を応えるべく、Versatile SEM  SE Seriesをリリース致しました。同製品のご紹介をさせて頂くのとあわせて、業務の高効率化を推し進めるべく、多機能イオンミリングによる前処理からハイエンドFE-SEMによる観察までの最新自動化ソリューションを紹介させて頂きます。
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    SEM基礎セミナー
エネルギー分散型X線分析装置（EDX）の原理と分析の基礎 FAQ 電子顕微鏡周辺装置 2024/09/03
概要
EDXを搭載するとSEMは分析ツールになります。微小領域の元素分析でできることは、不良解析から品質管理まで多種多様。SEM-EDX分析の原理と主な解析手法をご紹介します。
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    SEM基礎セミナー
エネルギー分散型X線分析装置（EDX）の原理と分析の基礎 電子顕微鏡周辺装置 2024/09/03
概要
EDXを搭載するとSEMは分析ツールになります。微小領域の元素分析でできることは、不良解析から品質管理まで多種多様。SEM-EDX分析の原理と主な解析手法をご紹介します。
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走査電子顕微鏡（SEM）試料前処理の基礎 ～SEM観察のために何が必要か～ FAQ 電子顕微鏡周辺装置 2024/09/03
概要
SEM像の出来栄えの8割は前処理で決まる！と言われます。様々なサンプルへの最適な前処理手法をご紹介します。
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走査電子顕微鏡（SEM）試料前処理の基礎 ～SEM観察のために何が必要か～ 電子顕微鏡周辺装置 2024/09/03
概要
SEM像の出来栄えの8割は前処理で決まる！と言われます。様々なサンプルへの最適な前処理手法をご紹介します。
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走査電子顕微鏡（SEM）の原理と観察テクニック ～SEMで何ができるのか～ FAQ 電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM） 2024/09/03
概要
良好なSEM像を得るためには加速電圧、電流量などを最適条件で使用する事が重要です。基本に忠実に、すぐに使えるテクニックをご紹介します。
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走査電子顕微鏡（SEM）の原理と観察テクニック ～SEMで何ができるのか～ 電子顕微鏡（SEM/TEM/STEM） 2024/09/03
概要
良好なSEM像を得るためには加速電圧、電流量などを最適条件で使用する事が重要です。基本に忠実に、すぐに使えるテクニックをご紹介します。
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【応用活用講座】AFMでこんなこともできる！表面性状計測から物性計測の活用事例をご紹介 走査型プローブ顕微鏡（AFM/SPM） 2024/09/03
概要
一般的に利用されている形状、粗さ測定だけでなく、電気・機械物性の計測とそこから派生する他の顕微鏡との相関解析まで、測定結果の解釈から課題解決までのアプローチをご紹介します。
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【装置機能講座】誰でもAFM測定を可能にする！カンチレバー交換と自動測定の工夫 走査型プローブ顕微鏡（AFM/SPM） 2024/09/03
概要
AFM操作の懸念事項に対して、カンチレバー交換及び光軸調整の工夫とレシピ機能をはじめとする自動測定機能の充実についてご紹介します。
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【基礎講座】AFMは難しくない！ここだけは知っておきたいAFMの基本と操作 走査型プローブ顕微鏡（AFM/SPM） 2024/09/03
概要
AFMを使用するにあたって、押さえておくべき測定原理・装置の特性・操作及び測定における注意点をご紹介します。

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